Microstructural characterization of materials / David Brandon and Wayne D. Kaplan

Von:

Brandon, David G [aut]

Mitwirkende(r):

Kaplan, Wayne D [aut]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Quantitative software engineering seriesVerlag: Chichester [u.a.] : Wiley, 2010Auflage: 2. ed., reprBeschreibung: XIV, 536 S. : Ill., graph. DarstISBN:

9780470027844
9780470027851

Schlagwörter:

Andere physische Formen: Erscheint auch als: Microstructural characterization of materials. Online-Ausgabe 2. ed. Chichester [u.a.] : Wiley, 2008. XIV, 536 S.DDC-Klassifikation:

620.1/1299

RVK: RVK: UQ 5000 | VE 9670 | UQ 8000Call number: Grundsignatur: 2013 A 1081(2)PPN: PPN: 1605240354

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Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Exemplarnummer	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Freihandbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Nord	werk 1.89	Lesesaal CN	2013 A 1081(2)	;b	Verfügbar		51403839090
Freihandbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	werk 1.89	Lesesaal Technik (LST)	2013 A 1081(2)		Verfügbar		51191436090

Anzahl Vormerkungen: 0