Degradation von MOS-Bauelementen durch optische Generation von Ladungsträgern / von Stefan Scharf. [Hahn-Meitner-Institut Berlin GmbH]
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Hahn-Meitner-Institut. HMI-Berichte ; 530Verlag: Berlin : HMI, 1995Beschreibung: 125 S. : graph. DarstReportnummer: HMI B 530Schlagwörter: Genre/Form: Bearbeitungsvermerk:- 2
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin | CN HMI-B-530 | Verfügbar | 53649722090 |
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