Zerstörungsfreie 3-dimensionale Defektlokalisierung an System-in-Packages (SIP) mittels Lock-in-Thermographie / Christian Schmidt
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 2013Beschreibung: VIII, 118 S. : Ill., graph. DarstReportnummer: 623/2012; 623 2012Schlagwörter: Genre/Form: RVK: RVK: ZQ 3820Hochschulschriftenvermerk: Halle-Wittenberg, Univ., Diss., 2013 Call number: Grundsignatur: 2013 A 5690PPN: PPN: 1606158570| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 2013 A 5690 | Verfügbar | 51894338090 |
Anzahl Vormerkungen: 0