Optical measurement systems for industrial inspection III : 23 - 26 June 2003, Munich, Germany / sponsored and publ. by SPIE, the International Society for Optical Engineering. Wolfgang Osten ..., chairs/ed.

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: SPIE, The International Society for Optical Engineering. Proceedings ; 5144Verlag: Bellingham, Wash. : SPIE, 2003Beschreibung: XVIII, 896 SISBN:

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Call number: Grundsignatur: 2003.Mün(45505)PPN: PPN: 1606226045

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Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode
Handbibliothek	Fakultät für Informatik	2003.Mün	Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich)	2003.Mün(45505)	Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich	15.01.2034	000461063090

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