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Radiation-induced soft errors : a chip-level modeling perspective / Norbert Seifert
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Hanover, MA [u.a.] : now Publishers, 2010Beschreibung: IX, 125 S. : graph. DarstISBN:- 9781601983947
| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Handbibliothek | Fakultät für Informatik | B.Sei | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | B.Sei(56443) | Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 15.01.2034 | 000646778090 |
Anzahl Vormerkungen: 0