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Radiation-induced soft errors : a chip-level modeling perspective / Norbert Seifert
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Publisher: Hanover, MA [u.a.] : now Publishers, 2010Description: IX, 125 S. : graph. DarstISBN:- 9781601983947
| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Handbibliothek | Fakultät für Informatik | B.Sei | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | B.Sei(56443) | Checked out Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 15.01.2034 | 000646778090 |
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