Neural models and algorithms for digital testing / by Srimat T. Chakradhar; Vishwani D. Agrawal; Michael L. Bushnell

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 140 : VLSI, computer architecture and digital signal processingVerlag: Boston : Kluwer Academic Publishers, 1991Beschreibung: XII, 184 SISBN:

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MSC: MSC: *94C12 | 94A13 | 68T05 | 92B20 | 94-02LOC-Klassifikation:

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Call number: Grundsignatur: 92 A 1595PPN: PPN: 1607069032

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Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	92 A 1595	Verfügbar	45203035090

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