Assessing fault model and test quality / by Kenneth M. Butler and M. Ray Mercer

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 157 : VLSI, computer architecture and digital signal processingVerlag: Boston [u.a.] : Kluwer Acad. Publ., 1992Beschreibung: XVIII, 132 SISBN:

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Call number: Grundsignatur: 92 A 1630PPN: PPN: 1607474476

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Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	92 A 1630	Verfügbar		45203999090

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