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The physics of SiO 2 and its interfaces : proceedings of the International Topical Conference on the Physics of SiO 2 and its Interfaces held at the IBM Thomas J. Watson Research Center Yorktown Heights, New York, March 22 - 24, 1978 / ed.: Sokrates Pantelides
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: New York [u.a.] : Pergamon Press, 1978Beschreibung: XI, 487 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 0080230490
- Nebent.: The physics of Silicon di Oxide2 and its interfaces
- sio2
- The physics of Silicon di Oxide2 and its interfaces : Proceedings
- 546/.683/2
- QC585.75.S55
| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Exemplarnummer | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 78 E 730 | Verfügbar | 45502537090 | |||||
| Freihandbestand Präsenznutzung | Fachbibliothek Physik | phys 6.24 | Bibliothek / frei aufgestellt | 78 E 730 | ;b | Nicht ausleihbar | 23102291 |
Anzahl Vormerkungen: 0