Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder; Jaroslav Fiala; Hans J. Bunge
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Internationale Union für Kristallographie. IUCr monographs on crystallography ; 10Verlag: Oxford [u.a.] : Oxford Univ. Press, 1999Auflage: 1. publBeschreibung: XXII, 785 S. : graph. DarstISBN:- 0198501897
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Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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