Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder; Jaroslav Fiala; Hans J. Bunge

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Internationale Union für Kristallographie. IUCr monographs on crystallography ; 10Verlag: Oxford [u.a.] : Oxford Univ. Press, 1999Auflage: 1. publBeschreibung: XXII, 785 S. : graph. DarstISBN:

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