Integrated circuit defect sensitivity : theory and computational models / José Pineda De Gyvez
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 208Verlag: Boston [u.a.] : Kluwer Academic Publishers, 1993Beschreibung: XXIV, 167 S. : graph. DarstISBN:- 0792393066
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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