Benutzerdefiniertes Cover
Integrated circuit defect sensitivity : theory and computational models / José Pineda De Gyvez
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Kluwer international series in engineering and computer science ; 208Verlag: Boston [u.a.] : Kluwer Academic Publishers, 1993Beschreibung: XXIV, 167 S. : graph. DarstISBN:- 0792393066
- defect-sensitivity
- 621.3815
- TK7874
- 1
| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Freihandbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.22 | Lesesaal Technik (LST) | 93 A 1601 | Verfügbar | 45493962090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 1 pdager