Tiefenprofilanalytik an Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium mittels der Massenspektrometrie zerstäubter Neutralteilchen und der Sekundärionen-Massenspektrometrie / Michael Gastel
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Forschungszentrum Jülich. Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3248Publisher: Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996Description: II, 99 Seiten : DiagrammeReport number: Jül-3248Genre/Form: Action note:- 1
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin CN | CN JUEL-3248 | Available | 51824158090 |
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