T & M news / Philips International Test & Measurement

Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: ZeitschriftPeriodicalVolumes: Bände: Show volumesZeige BändePublisher: Eindhoven, 1973-1993Other title:
  • Nebent.:: Test and measuring news
  • T and M news
Genre/Form: Additional physical formats: Erscheint auch als: Test & Messtechnik. Dt. Ausg. Kassel, 1985 | Erscheint auch als: T & M news. Dt. Ausg. Kassel, 1990DDC classification:
  • 600 360
Call number: Grundsignatur: ZE 5403Publication dates: Erscheinungsverlauf: 1.1973 - 11.1983; 16.1988 - 21.1993,1Holdings: KIT-Bibliothek (ZE 5403): 1.1973 - 11.1983Get a copy of article (LEA)Aufsatzkopie bestellen (LEA)Continues: Vorg.: Test and measuring notes., Eindhoven, 1972Continued by: Forts.: John Fluke Mfg. Co. (Seattle, Wash.). Fluke T & M news / Englische Ausgabe., Eindhoven, 1993Other relationships: Weitere Beziehungen: PPN: PPN: 129414395ZDB ID: ZDB-ID: 189127-3
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Item type Home library Shelving location Call number Status Barcode
Magazinbestand Präsenznutzung Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin ZE 5403-1/8.1973/1980 Bestellbar ins Abholregal 54123175090
Magazinbestand Präsenznutzung Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin ZE 5403-9/11.1981/1983 Bestellbar ins Abholregal 23112795
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