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Generation von Oxidladungen und Phasengrenzzuständen im MOS-System durch Tunnelinjektion und ionisierende Bestrahlung / Meinhard Knoll

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: 1983Beschreibung: 130 S. : graph. DarstSchlagwörter: Genre/Form: Bearbeitungsvermerk:
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Hochschulschriftenvermerk: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1983 Call number: Grundsignatur: 86 DE 1172PPN: PPN: 1624459226
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Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 86 DE 1172 Verfügbar 09042096300
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