Elektronenmikroskopische Untersuchung der Fehlstellenagglomeration in Kupfer nach Tieftemperaturbestrahlung / Gerhard Nabert
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: 1987Description: 55 S. : IllSubject(s): Genre/Form: Dissertation note: Stuttgart, Univ., Diss., 1987 Call number: Grundsignatur: 87 DA 3584PPN: PPN: 163606857X| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 87 DA 3584 | Available | 40800724 |
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