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Untersuchung von Mikrorissen bei Wechselbeanspruchung durch Laserinterferometrie / Sung-Woo Im
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 5 ; 201Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1990Edition: Als Ms. gedrDescription: XI, 123 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3181401056
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| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 90 A 4082 | Available | 46264726090 |
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