An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F. Watts, University of Surrey, UK, John Wolstenholme, Crowborough, UK

Von:

Watts, John F [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Wolstenholme, John [VerfasserIn]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Hoboken, NJ : Wiley, 2020Auflage: Second editionBeschreibung: xviii, 267 Seiten : Illustrationen, DiagrammeISBN:

9781119417583
9781119417620
9781119417644

Schlagwörter:

Andere physische Formen: 9781119417620. | 9781119417644. | Erscheint auch als: An introduction to surface analysis by XPS and AES. Online-Ausgabe Hoboken : Wiley, 2019 | Erscheint auch als: An introduction to surface analysis by XPS and AES. Online-Ausgabe Second edition. Hoboken, NJ : Wiley, 2020. 1 Online-Ressource (xviii, 267 Seiten)DDC-Klassifikation:

620/.44

LOC-Klassifikation:

TP156.S95

Zusammenfassung: "The year of publication (2019) is the Golden Jubilee of the launch of XPS and AES as commercially available analysis methods. It is a rather salutary though that both of us have been involved with applied surface analysis for more than three quarters of this time, which gives us both cause to reflect on the many innovations that have taken place during this time. As a celebration of 50 years of XPS we include images of one of the first commercial XPS systems and a sectioned analyser from such a system, overleaf"--Call number: Grundsignatur: 2003 A 3284(2)PPN: PPN: 1668237024

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Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode
Handbibliothek	IAM	werk 2.9	Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich)	2003 A 3284(2)	Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich	18.08.2042	53678221090

Anzahl Vormerkungen: 0