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Mustererkennung : proceedings ; DAGM-Symposium

Contributor(s):

Resource type: Ressourcentyp: ZeitschriftPeriodicalLanguage: German, English Volumes: Bände: Show volumesZeige BändePublisher: Berlin ; Heidelberg ; New York, NY ; Barcelona ; Hongkong ; London ; Mailand ; Paris ; Singapur ; Tokio : Springer, 1983-2000Description: 24 cmOther title:

Informatik-Fachberichte / Mustererkennung

Former title: Früherer Titel: DAGM-ÖAGM-Symposium, Zusatz teilsSubject(s):

Genre/Form:

Additional physical formats: Erscheint auch als: Mustererkennung. Online-Ausg. Berlin : Springer, 1983. Online-RessourceDDC classification:

006.4 22/ger
004
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RVK: RVK: ST 330Publication dates: Erscheinungsverlauf: Nachgewiesen 5.1983; [6.]1984; 7.1985 - 22.2000Publication frequency: Erscheinungsweise: Ersch. jährl.Holdings: KIT-Bibliothek: 5.1983 - 12.1990; 14.1992; 15.1993; 18.1996; 20.1998, Einzelsignatur; genauer Signaturnachweis im lokalen KatalogGet a copy of article (LEA)Aufsatzkopie bestellen (LEA)Continues: Vorg: Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung. DAGM-Symposium., Berlin : Springer, 1978Continued by: Forts: Pattern recognition., Heidelberg : Springer, 2001Other relationships: Weitere Beziehungen:

5=35 von: Alagh, Y. K. ZDB. Narmada and environment. New Delhi : Har-anand Publ., 1995. X, 356 S.
5=35 von: Verband Deutscher Elektrotechniker. VDE-Fachberichte. Berlin : VDE-Verl., 1931
[6]=87; 7=107; 8=125; 9=149; 10=180; 11=219; 12=254; 13=290 von: Informatik-Fachberichte. Berlin : Springer, 1976

PPN: PPN: 13045835XZDB ID: ZDB-ID: 722155-1

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Beitr. teilw. dt., teilw. engl

IIA!385!(läuft weiter, 7/95)708!(10-06-02)

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