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Automatic Testing and evaluation of digital integrated circuits / J. T. Healy

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Reston, Va. : Reston Publ. Co., c 1981Beschreibung: XVII, 236 S : Ill., graph. DarstISBN:
  • 0835902560
Schlagwörter: DDC-Klassifikation:
  • 621.381730287
  • 621.381/73/0287 19
LOC-Klassifikation:
  • TK7874
Bearbeitungsvermerk:
  • 1
Call number: Grundsignatur: 81 A 864PPN: PPN: 016655885
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Barcode
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 81 A 864 Verfügbar 45756404090
Anzahl Vormerkungen: 0

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