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Proceedings of the ... IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : ICMTS / sponsored by IEEE Electron Devices Society

By:

International Conference on Microelectronic Test Structures [VerfasserIn]

Contributor(s):

IEEE Electron Devices Society [Herausgebendes Organ]

Resource type: Ressourcentyp: ZeitschriftPeriodicalVolumes: Bände: Show volumesZeige BändePublisher: New York, NY : Inst. of Electr. and Electronics Engineers, 1988-1989Genre/Form:

DDC classification:

Notes: Anmerkungen: Forts. als Monographie behandeltNote: Hinweis: Forts. als Monographie behandeltPublication dates: Erscheinungsverlauf: 1.1988 - 2.1989Publication frequency: Erscheinungsweise: Forts. als Monographie behandeltGet a copy of article (LEA)Aufsatzkopie bestellen (LEA)PPN: PPN: 130879118ZDB ID: ZDB-ID: 1037354-8

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