Silizium-Epitaxieschichten mittels Lösungstransport durch Fliehkraft und deren strukturelle und elektrische Charakterisierung überwiegend mit elektronenmikroskopischen Methoden : [Schlußbericht, Abschlußdatum: Dezember 1985] / Elisabeth Bauser; Horst Strunk. Max-Planck-Institut für Festkörperforschung, Stuttgart; Institut für Physik, Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Deutschland Forschungsbericht / T ; 86,142 : ElektronikPublisher: Eggenstein-Leopoldshafen : Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik Karlsruhe, 1986Description: 103 S : Ill., graph. DarstReport number: BMFT-FB-T-86-142Other title:- Nebent.: Silicon epitaxial layers with solution transport by centrifugal forces and their structural and electrical characterization by methods of electron microscopy
- Silicon epitaxial layers with solution transport by centrifugal forces and their structural and electrical characterization by methods of electron microscopy
- 2
- Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZE 5324-1986,142.1986 | Available | 50115913090 |
Total holds: 0
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW DE-31 pdager DE-90