Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays / Yongzhang Chen. Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Universität Karlsruhe (TH). Interner Bericht / Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik ; 93,20Verlag: Karlsruhe : Univ., Fak. für Informatik, 1993Beschreibung: 24 S : graph. Darst ; 30 cmGenre/Form: RVK: RVK: SS 5554Bearbeitungsvermerk:- 2
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZE 4617-1993,20.1993 | Verfügbar | 33249353 | |
| Freihandbestand Präsenznutzung | Fachbibliothek Informatik | Bibliothek / frei aufgestellt | Z 167(21892) | Nicht ausleihbar | 000729035090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
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