Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays / Yongzhang Chen. Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Universität Karlsruhe (TH). Interner Bericht / Universität Karlsruhe, Fakultät für Informatik ; 93,20Publisher: Karlsruhe : Univ., Fak. für Informatik, 1993Description: 24 S : graph. Darst ; 30 cmGenre/Form: RVK: RVK: SS 5554Action note:- 2
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | ZE 4617-1993,20.1993 | Available | 33249353 | |
| Freihandbestand Präsenznutzung | Fachbibliothek Informatik | Bibliothek / frei aufgestellt | Z 167(21892) | Not for loan | 000729035090 |
Total holds: 0
Archivierung prüfen 20240511 DE-640 2 pdager