Strahlenschädigung in MOS-Varaktoren bei tiefen Temperaturen / von Randolf E. C. Radke. [Hahn-Meitner-Institut Berlin GmbH]
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Hahn-Meitner-Institut. HMI-Berichte ; 512Publisher: Berlin : HMI, 1993Description: 110 S. : graph. Darst. ; 30 cmReport number: HMI B 512Subject(s): Genre/Form: Action note:- 2
| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Nord | Geschlossenes Magazin | CN HMI-B-512 | Available | 53649631090 |
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