Hochdosisimplantation von Stickstoff in Silizium: eine Technik zur Erzeugung von dielektrisch isolierten CMOS-Bauelementen mit hoher Integrationsdichte / Holger Vogt
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 64Publisher: Düsseldorf : VDI-Verlag, 1986Description: 152 S. : 79 Ill. u. graph. Darst. ; 21 cmISBN:- 3181464090
- Nebent.: Vogt, H.: CMOS auf vergrabenem Siliziumnitrid
- CMOS auf vergrabenem Siliziumnitrid
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 86 A 3392 | Available | 23292225 |
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