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Hochdosisimplantation von Stickstoff in Silizium: eine Technik zur Erzeugung von dielektrisch isolierten CMOS-Bauelementen mit hoher Integrationsdichte / Holger Vogt

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 64Publisher: Düsseldorf : VDI-Verlag, 1986Description: 152 S. : 79 Ill. u. graph. Darst. ; 21 cmISBN:
  • 3181464090
Other title:
  • Nebent.: Vogt, H.: CMOS auf vergrabenem Siliziumnitrid
  • CMOS auf vergrabenem Siliziumnitrid
Subject(s): Action note:
  • 2
Dissertation note: Zugl.: @Dortmund, Univ., Diss., 1986 Call number: Grundsignatur: 86 A 3392PPN: PPN: 163318379
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Item type Home library Shelving location Call number Status Barcode
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 86 A 3392 Available 23292225
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