Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen / Bernd Roos

Von:

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 5 ; 358Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1994Auflage: Als Ms. gedrBeschreibung: 127 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cmISBN:

Schlagwörter:

Genre/Form:

Bearbeitungsvermerk:

Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1994 Call number: Grundsignatur: 94 A 2785PPN: PPN: 164160566

Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	nach 8.21	Geschlossenes Magazin	94 A 2785	Verfügbar	44440202090

Anzahl Vormerkungen: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager