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Der Einfluß thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen / Bernd Roos
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 5 ; 358Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1994Edition: Als Ms. gedrDescription: 127 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cmISBN:- 3183358050
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| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.21 | Geschlossenes Magazin | 94 A 2785 | Available | 44440202090 |
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