Developments in integrated circuit testing / D.M. Miller, ed.

Mitwirkende(r):

Miller, D. M [Hrsg.]
New directions in ic testing [oth]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Perspectives in computing ; 18Verlag: London [u.a.] : Academic Pr., 1987Beschreibung: X, 440 S. : Ill. ; 23 cmISBN:

0124967353

Schlagwörter:

Integrierte Schaltung
Prüftechnik
Integrated circuits
Digital integrated circuits. Testing
Digital integrated circuits++Testing

Genre/Form:

Konferenzschrift

DDC-Klassifikation:

621.381'71
621.381/5/0287
621.38150287

RVK: RVK: ST 190LOC-Klassifikation:

TK7874

Bearbeitungsvermerk:

Call number: Grundsignatur: 88 A 2041PPN: PPN: 017099250

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Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	88 A 2041	Verfügbar	46832579090

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