Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology III : 9-11 April 2024, Strasbourg, France / Peter J. de Groot, Felipe Guzman, Pascal Picart (editors) ; sponsored by: SPIE

Von:

Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology (Veranstaltung) : (2024 : Straßburg) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Groot, Peter J. de [HerausgeberIn]
Guzman, Felipe [HerausgeberIn]
Picart, Pascal [HerausgeberIn]
SPIE [Herausgebendes Organ]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 12997Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2024]Beschreibung: 1 Online-Ressource : IllustrationenISBN:

9781510673137

Weitere Titel:

SPIE Photonics Europe Straßburg

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510673120 Online-Ressourcen:

Zugang im Netz des KIT

PPN: PPN: 1895988446Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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