Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology III : 25-31 January 2025, San Francisco, California, United States / Selim M. Shahriar (editor) ; sponsored and published by: SPIE

Von:

Quantum Sensing, Imaging, and Precision Metrology (Veranstaltung) : (2025 : San Francisco, Calif.) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Shahriar, Selim M [HerausgeberIn]
SPIE [Herausgebendes Organ]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Reihen: SPIE. Proceedings of SPIE ; volume 13392 | SPIE. Proceedings of SPIE ; volume PC13392Verlag: Bellingham, Washington, USA : SPIE, [2025]Beschreibung: 2 Online-Ressourcen : IllustrationenISBN:

9781510685338

Weitere Titel:

SPIE West

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: 9781510685321 Online-Ressourcen:

Zugang im Netz des KIT

PPN: PPN: 1921786868Package identifier: Produktsigel: ZDB-1-SPIE

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