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Hot-carrier effects in MOS devices / Eiji Takeda; Cary Y. Yang; Akemi Miura-Hamada
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: San Diego [u.a.] : Academic Press, 1995Beschreibung: XII, 312 S : graph. Darst ; 24 cmISBN:- 0126822409
- 537.6225
- 537.6/225
- TK7871.99.M44
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Freihandbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.41 | Lesesaal Technik (LST) | 96 A 759 | Verfügbar | 44610653090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager