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Digital systems testing and testable design / Miron Abramovici; Melvin A. Breuer; Arthur D. Friedman
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Electrical engineering, circuits and systems, computersVerlag: New York, NY : IEEE Press, 1990Auflage: Rev. printBeschreibung: XVIII, 652 S : graph. Darst ; 25 cmISBN:- 0780310624
- 621.3815
| Medientyp | Heimatbibliothek | Signatur | Status | |
|---|---|---|---|---|
| Institutsbestand | ITIV | IB-2839 | Nicht ausleihbar |
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