Advanced simulation and test methodologies for VLSI design / Gordon Russell and Ian L. Sayers

Von:

Russell, Gordon, 1892-1980 [aut]

Mitwirkende(r):

Sayers, Ian L [aut]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: London : Van Nostrand Reinhold (International), 1989Auflage: 1. publBeschreibung: XI, 378 S. : Ill., graph. DarstISBN:

0747600015

Schlagwörter:

VLSI
Prüftechnik
Very large scale integrated circuits. Design & construction. Simulations
Integrated circuitsVery large scale integration++Design and construction++Simulation methods

DDC-Klassifikation:

621.381'73
621.381/73

RVK: RVK: ST 190LOC-Klassifikation:

TK7874

Bearbeitungsvermerk:

Call number: Grundsignatur: 89 A 2060PPN: PPN: 275318974

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Titelinformationen ( 1 )

Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	89 A 2060	Verfügbar	45553563090
Institutsbestand	ITIV		IB-2642	Nicht ausleihbar

Anzahl Vormerkungen: 0

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