Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium / Stephan Geier

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 223Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1996Auflage: Als Ms. gedrBeschreibung: VII, 139 S. : graph. DarstISBN:

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RVK: RVK: UQ 8220 | ZM 3850Bearbeitungsvermerk:

Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Augsburg, Univ., Diss., 1995 Call number: Grundsignatur: 96 A 828PPN: PPN: 275831647

Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	nach 8.21	Geschlossenes Magazin	96 A 828	Verfügbar		44608777090

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