Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium / Stephan Geier
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 223Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1996Auflage: Als Ms. gedrBeschreibung: VII, 139 S. : graph. DarstISBN:- 3183223090
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Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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