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Textur- und Spannungsanalyse an dünnen epitaktischen Diamantschichten auf Silizium / Stephan Geier

By: Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 223Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1996Edition: Als Ms. gedrDescription: VII, 139 S. : graph. DarstISBN:
  • 3183223090
Subject(s): Genre/Form: RVK: RVK: UQ 8220 | ZM 3850Action note:
  • 2
Dissertation note: Zugl.: Augsburg, Univ., Diss., 1995 Call number: Grundsignatur: 96 A 828PPN: PPN: 275831647
Holdings
Item type Home library Collection Shelving location Call number Status Date due Barcode Item holds
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd nach 8.21 Geschlossenes Magazin 96 A 828 Available 44608777090
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