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Kostengünstige Testmethoden für Semi-Custom ASICs / Thomas Büchner
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 233Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1996Edition: Als Ms. gedrDescription: XI, 117 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3183233096
- Kostengünstige ASIC-Testmethoden
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| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.41 | Geschlossenes Magazin | 96 A 3068 | Available | 44666764090 |
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