Kostengünstige Testmethoden für Semi-Custom ASICs / Thomas Büchner

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 233Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1996Auflage: Als Ms. gedrBeschreibung: XI, 117 S. : Ill., graph. DarstISBN:

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Hochschulschriftenvermerk: Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1996 (Nicht für den Austausch) Call number: Grundsignatur: 96 A 3068PPN: PPN: 27583168X

Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	nach 8.41	Geschlossenes Magazin	96 A 3068	Verfügbar	44666764090

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