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Streulicht- und Rastertunnelmikroskop-Untersuchungen an optischen Siliciumoberflächen / Ralf Kumpe
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschrittberichte VDI / 9 ; 259Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 1997Auflage: Als Ms. gedrBeschreibung: IX, 109 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3183259095
- Streulicht und STM-Untersuchung auf Si
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.24 | Geschlossenes Magazin | 97 A 1037 | Verfügbar | 09042049218 |
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