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Hochfrequenzcharakterisierung von Mikrowellentransistoren aus III-V-Halbleitermaterial bei Temperaturen im Bereich von 20 K bis 300 K / Herbert Meschede
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 21 ; 144Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 1993Edition: Als Ms. gedrDescription: XVI, 180 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3181444219
- HF-Tieftemperaturmessung
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| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.32 | Geschlossenes Magazin | 93 A 4878 | Available | 45516964090 |
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