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Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution / Tien T. Tsong
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Cambridge [u.a.] : Cambridge University Press, 1990Auflage: 1. publBeschreibung: X, 387 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 0521363799
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- 502/.8/2
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | Vormerkungen | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 91 A 236 | Verfügbar | 46180261090 |
Anzahl Vormerkungen: 0