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Atom-probe field ion microscopy : field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution / Tien T. Tsong

Von: Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Cambridge [u.a.] : Cambridge University Press, 1990Auflage: 1. publBeschreibung: X, 387 S. : Ill., graph. DarstISBN:
  • 0521363799
Schlagwörter: Andere physische Formen: Online-Ausg.: Atom-Probe Field Ion Microscopy. Online-Ausg. Cambridge : Cambridge University Press, 1990. Online-Ressource (1 online resource (400 p.))DDC-Klassifikation:
  • 502.82
  • 502/.8/2
RVK: RVK: UH 6330Call number: Grundsignatur: 91 A 236PPN: PPN: 276172205
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode Vormerkungen
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 91 A 236 Verfügbar 46180261090
Anzahl Vormerkungen: 0

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