Proceedings / International Test Conference 1993 : [Designing, testing, and diagnostics - join them ; October 17 - 21, 1993, Convention Center, Baltimore, Maryland, USA]

Von:

(24 : International Test Conference (24 : 1993 : Baltimore, Md.) [aut]

Mitwirkende(r):

Institute of Electrical and Electronics Engineers [oth]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Piscataway, NJ : IEEE Service Center, 1993Beschreibung: XII, 1065 S. : graph. DarstISBN:

0780314298
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0818614298
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Weitere Titel:

Nebent.: Designing, testing, and diagnostics - join them

Schlagwörter:

Genre/Form:

Konferenzschrift -- 1993 -- Baltimore, Md.

DDC-Klassifikation:

621.3815/028/7
621.38150287

RVK: RVK: SS 1800LOC-Klassifikation:

TK7874

Bearbeitungsvermerk:

Call number: Grundsignatur: 94 E 338PPN: PPN: 277931436

Exemplare ( 1 )
Titelinformationen ( 1 )

Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	94 E 338	Verfügbar	47482310090

Anzahl Vormerkungen: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager