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ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry / ed. by John C. Vickerman and David Briggs
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Publisher: Chichester : IM, 2001Publisher: Manchester : SurfaceSpectra, 2001Description: IX, 789 S : Ill ; 25 cmISBN:- 1901019039
- 541.33
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| Item type | Home library | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Handbibliothek | IAM | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | 2019 E 50 | Checked out Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 18.08.2042 | 53323367090 |
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