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ToF-SIMS : surface analysis by mass spectrometry / ed. by John C. Vickerman and David Briggs
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Chichester : IM, 2001Verlag: Manchester : SurfaceSpectra, 2001Beschreibung: IX, 789 S : Ill ; 25 cmISBN:- 1901019039
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | |
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| Handbibliothek | IAM | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | 2019 E 50 | Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 18.08.2042 | 53323367090 |
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Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager