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Deterministic built-in self-test with guaranteed test quality and low overhead / Gundolf Kiefer
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Berichte der GI/GMM/ITG-Kooperationsgemeinschaft Rechnergestützter Schaltungs- und Systementwurf | Verein Deutscher Ingenieure. Fortschritt-Berichte VDI / 20 ; 347Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 2002Edition: Als Ms. gedrDescription: X, 127 S : graph. DarstISBN:- 3183347202
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| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.24 | Geschlossenes Magazin | 2002 A 2309 | Available | 45584988090 |
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