Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik : Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. VDI-Berichte ; 1669Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 2003Beschreibung: 202 S. : Ill., graph. DarstISBN:

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RVK: RVK: ZQ 3100 | ZQ 3890 | ZN 3750Bearbeitungsvermerk:

Call number: Grundsignatur: 2003 A 1131PPN: PPN: 361743351

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Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Barcode
Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	inst 3.7	Geschlossenes Magazin	2003 A 1131	Verfügbar	45328908090

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