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Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik : Tagung Stuttgart, 12. und 13. Februar 2003 / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik
Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Series: Verein Deutscher Ingenieure. VDI-Berichte ; 1669Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 2003Description: 202 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 3180916699
- mikrotechnik
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| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | inst 3.7 | Geschlossenes Magazin | 2003 A 1131 | Available | 45328908090 |
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Literaturangaben
Archivierung prüfen 20200919 DE-640 2 pdager