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Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen : und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen / Hans Eigler
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Deutsch Verlag: Renningen-Malmsheim : Expert Verl., 2003Beschreibung: 372 S : graph. Darst ; 21 cmISBN:- 3816921590
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Sammlung | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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Anzahl Vormerkungen: 0