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Die Zuverlässigkeit von Elektronik- und Mikrosystemen : und ihr Zusammenhang mit Physik, Chemie und Metallkunde ; mit 21 Tabellen / Hans Eigler
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: German Publisher: Renningen-Malmsheim : Expert Verl., 2003Description: 372 S : graph. Darst ; 21 cmISBN:- 3816921590
- 620
| Item type | Home library | Collection | Shelving location | Call number | Status | Date due | Barcode | Item holds | |
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| Freihandbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | nach 8.24 | Lesesaal Technik (LST) | 2004 A 5384 | Available | 46014522090 |
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