Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster; W. Hofer

Von:

Foster, Adam [aut]

Mitwirkende(r):

Hofer, Werner, 1960- [aut]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: NanoScience and technologyVerlag: New York, NY ; [Heidelberg] : Springer, 2006Beschreibung: XIV, 281 S. : Ill., graph. DarstISBN:

9780387400907
9781441923066
0387400907

Schlagwörter:

Andere physische Formen: 9780387372310 | Online-Ausg.: Scanning probe microscopy. New York, NY : Springer, 2006. Online-Ressource | Erscheint auch als: Scanning Probe Microscopy. Online-Ausgabe. New York, NY : Springer New York, 2006. Online-Ressource (XIV, 281 p. 116 illus, digital)DDC-Klassifikation:

502.82
502.8/2

RVK: RVK: UH 6310LOC-Klassifikation:

QH212.S33

Inhalte:

Literaturangaben

Call number: Grundsignatur: 2012 A 3282PPN: PPN: 368354407

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Exemplare
Medientyp	Heimatbibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Freihandbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Nord	nat 2.12	Lesesaal CN	2012 A 3282	Verfügbar		51004912090

Anzahl Vormerkungen: 0