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Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability / Michael LuValle; Bruce G. Lefevre; SriRaman Kannan

Von: Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Boca Raton, FL [u.a.] : Chapman & Hall/CRC, 2004Beschreibung: 236 S : Ill., graph. DarstISBN:
  • 1584884711
Schlagwörter: DDC-Klassifikation:
  • 620/.00452 22
MSC: MSC: *62N05 | 62-02LOC-Klassifikation:
  • TA169.3
  • TA169.3.L88 2004
Bearbeitungsvermerk:
  • 3
Call number: Grundsignatur: 2014 A 2204PPN: PPN: 376127643
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Sammlung Standort Signatur Status Barcode
Freihandbestand ausleihbar Bibliothek Campus Nord tech 1.5 Lesesaal CN 2014 A 2204 Verfügbar 51987305090
Anzahl Vormerkungen: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager