VLSI test principles and architectures : design for testability / ed. by Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu...

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: The Morgan Kaufmann series in systems on siliconVerlag: Amsterdam ; Heidelberg [u.a.] : Elsevier, 2006Beschreibung: XXX, 777 S : Ill., graph. DarstISBN:

0123705975
9780123705976

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Andere physische Formen: Online-Ausg. (ScienceDirect): VLSI test principles and architectures. Amsterdam : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, 2006. Online Ressource (xxx, 777 p.) | Erscheint auch als: VLSI test principles and architectures. Online-Ausgabe. Amsterdam : Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, 2006. 1 Online-Ressource (xxx, 777 Seiten) | Online-Ausg. (MyiLibrary): VLSI test principles and architectures. Amsterdam : Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, 2006. 1 Online-Ressource (xxx, 777 Seiten)DDC-Klassifikation:

621.39/5 22

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