VLSI test principles and architectures : design for testability / ed. by Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu...
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: The Morgan Kaufmann series in systems on siliconVerlag: Amsterdam ; Heidelberg [u.a.] : Elsevier, 2006Beschreibung: XXX, 777 S : Ill., graph. DarstISBN:- 0123705975
- 9780123705976
- 621.39/5 22
- TK7874.75
- Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW
| Medientyp | Heimatbibliothek | Signatur | Status | |
|---|---|---|---|---|
| Institutsbestand | ITIV | IB-3848 | Nicht ausleihbar |
Anzahl Vormerkungen: 0
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW DE-31 pdager DE-90