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System-on-chip test architectures : nanometer design for testability / ed. by Laung-Terng Wang; Charles Stroud; Nur A. Touba

Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: The Morgan Kaufmann series in systems on siliconPublisher: Amsterdam ; Heidelberg [u.a.] : Morgan Kaufmann Publishers, 2008Description: XXXVI, 856 S. : Ill., zahlr. graph. Darst. ; 24 cmISBN:
  • 012373973X
  • 9780123739735
Subject(s): Additional physical formats: Online-Ausg.: System-on-chip test architectures. Amsterdam : Morgan Kaufmann Publishers, 2008. Online Ressource (xxxvi, 856 p.) | Erscheint auch als: System-on-chip test architectures. Online-Ausgabe. Amsterdam : Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, 2008. 1 Online-Ressource (xxxvi, 856 Seiten) | Online-Ausg. (ScienceDirect): System-on-chip test architectures. Amsterdam : Morgan Kaufmann Publishers, 2008. Online Ressource (xxxvi, 856 p.) | Online-Ausg. (MyiLibrary): System-on-chip test architectures. Amsterdam : Elsevier, Morgan Kaufmann Publishers, 2008. 1 Online-Ressource (xxxvi, 856 Seiten)DDC classification:
  • 621.395
  • 621.39/5
RVK: RVK: ZN 4030LOC classification:
  • TK7895.E42
Action note:
  • 3
  • Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW
PPN: PPN: 531722880
Holdings
Item type Home library Call number Status
Institutsbestand ITIV IB-3849 Not for loan
Total holds: 0

Archivierung prüfen 20200919 DE-640 3 pdager

Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW DE-31 pdager DE-90

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