Reliability and failure of electronic materials and devices / Milton Ohring (Department of Materials Science and Engineering, Stevens Institute of Technology, Hoboken, New Jersey) with Lucian Kasprzak (IBM Retired, Bear, Delaware)
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Amsterdam ; Bosten ; Heidelberg : Academic Press, an imprint of Elsevier, [2015]Copyright-Datum: © 2015Auflage: Second EditionBeschreibung: xxiv, 734 Seiten : Illustrationen, DiagrammeISBN:- 0120885743
- 9780120885749
- 621.381
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Handbibliothek | IPE | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | 2021 A 1700 | Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 09.12.2041 | 53596035090 |
Anzahl Vormerkungen: 0