Benutzerdefiniertes Cover
Benutzerdefiniertes Cover
Normale Ansicht MARC-Ansicht ISBD

Reliability and failure of electronic materials and devices / Milton Ohring (Department of Materials Science and Engineering, Stevens Institute of Technology, Hoboken, New Jersey) with Lucian Kasprzak (IBM Retired, Bear, Delaware)

Von: Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Verlag: Amsterdam ; Bosten ; Heidelberg : Academic Press, an imprint of Elsevier, [2015]Copyright-Datum: © 2015Auflage: Second EditionBeschreibung: xxiv, 734 Seiten : Illustrationen, DiagrammeISBN:
  • 0120885743
  • 9780120885749
Schlagwörter: DDC-Klassifikation:
  • 621.381
RVK: RVK: ZN 4040Call number: Grundsignatur: 2021 A 1700PPN: PPN: 534541208
Exemplare
Medientyp Heimatbibliothek Standort Signatur Status Fälligkeitsdatum Barcode
Handbibliothek IPE Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) 2021 A 1700 Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich 09.12.2041 53596035090
Anzahl Vormerkungen: 0