Helium ion microscopy : principles and applications / David C. Joy
Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Springer-briefs in materialsVerlag: New York, NY ; Heidelberg [u.a.] : Springer, 2013Beschreibung: VIII, 64 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 9781461486596
- HIM
- 578.1 23
- 620.11
- QH212.F5
- TA404.6
Inhalte:
Call number: Grundsignatur: 2015 B 219PPN: PPN: 769177271
| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Fälligkeitsdatum | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Handbibliothek | IAM | Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich) | 2015 B 219 | Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich | 20.08.2035 | 51762982090 |
Anzahl Vormerkungen: 0