Helium ion microscopy : principles and applications / David C. Joy
Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Springer-briefs in materialsPublisher: New York, NY ; Heidelberg [u.a.] : Springer, 2013Description: VIII, 64 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 9781461486596
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Contents:
Call number: Grundsignatur: 2015 B 219PPN: PPN: 769177271
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