Helium ion microscopy : principles and applications / David C. Joy

Von:

Joy, David C, 1943- [aut]

Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Springer-briefs in materialsVerlag: New York, NY ; Heidelberg [u.a.] : Springer, 2013Beschreibung: VIII, 64 S. : Ill., graph. DarstISBN:

9781461486596

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Andere physische Formen: 9781461486602. | Erscheint auch als: Helium Ion Microscopy. Online-Ausgabe New York, NY : Springer New York, 2013. Online-Ressource (VIII, 64 p. 29 illus., 16 illus. in color, online resource)DDC-Klassifikation:

578.1 23
620.11

LOC-Klassifikation:

QH212.F5
TA404.6

Inhalte:

Call number: Grundsignatur: 2015 B 219PPN: PPN: 769177271

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Medientyp	Heimatbibliothek	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode
Handbibliothek	IAM	Handbibliothek (Ausleihe und Einsicht nicht möglich)	2015 B 219	Ausgeliehen Ausleihe und Einsicht nicht möglich	20.08.2035	51762982090

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