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Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 : 5. VDI/VDE-Fachtagung ; normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 / VDI/VDE Mess- und Automatisierungstechnik

Contributor(s): Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Verein Deutscher Ingenieure. VDI-Berichte ; 2194Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 2013Edition: Nichtred. Ms.-druckDescription: 211 S. : Ill., graph. DarstISBN:
  • 9783180921945
Other title:
  • Fünfte VDI-VDE-Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013
  • Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013
Subject(s): Genre/Form: DDC classification:
  • 620
RVK: RVK: ZQ 3100 | ZQ 3890 | ZQ 3950Action note:
  • 2
Call number: Grundsignatur: 2013 A 5568PPN: PPN: 770806716
Holdings
Item type Home library Shelving location Call number Status Barcode
Magazinbestand ausleihbar Bibliothek Campus Süd Geschlossenes Magazin 2013 A 5568 Available 51508613090
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