Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 : 5. VDI/VDE-Fachtagung ; normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 / VDI/VDE Mess- und Automatisierungstechnik

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Resource type: Ressourcentyp: BuchBookLanguage: English Series: Verein Deutscher Ingenieure. VDI-Berichte ; 2194Publisher: Düsseldorf : VDI-Verl., 2013Edition: Nichtred. Ms.-druckDescription: 211 S. : Ill., graph. DarstISBN:

9783180921945

Other title:

Fünfte VDI-VDE-Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013
Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013

Subject(s):

Genre/Form:

Konferenzschrift -- 2013 -- Nürtingen

DDC classification:

RVK: RVK: ZQ 3100 | ZQ 3890 | ZQ 3950Action note:

Call number: Grundsignatur: 2013 A 5568PPN: PPN: 770806716

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Magazinbestand ausleihbar	Bibliothek Campus Süd	Geschlossenes Magazin	2013 A 5568	Available	51508613090

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