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Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013 : 5. VDI/VDE-Fachtagung ; normgerechte Auswertung, Charakterisierung und Tolerierung von Rauheit und Mikroformelementen ; Nürtingen, 23. und 24. Oktober 2013 / VDI/VDE Mess- und Automatisierungstechnik
Mitwirkende(r): Resource type: Ressourcentyp: BuchBuchSprache: Englisch Reihen: Verein Deutscher Ingenieure. VDI-Berichte ; 2194Verlag: Düsseldorf : VDI-Verl., 2013Auflage: Nichtred. Ms.-druckBeschreibung: 211 S. : Ill., graph. DarstISBN:- 9783180921945
- Fünfte VDI-VDE-Fachtagung Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013
- Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2013
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| Medientyp | Heimatbibliothek | Standort | Signatur | Status | Barcode | |
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| Magazinbestand ausleihbar | Bibliothek Campus Süd | Geschlossenes Magazin | 2013 A 5568 | Verfügbar | 51508613090 |
Anzahl Vormerkungen: 0
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