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Untersuchung neuartiger Sensorkonzepte und Entwicklung eines effektiven Modells der Strahlenschädigung für die Simulation hochbestrahlter Silizium-Teilchendetektoren / von Robert Eber

Von:

Eber, Robert [aut]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Deutsch Verlag: Karlsruhe : KIT-Bibliothek, 2013Beschreibung: Online-RessourceSchlagwörter:

silicon
sensor
radiation
defect
model

Genre/Form:

Hochschulschrift

DDC-Klassifikation:

Local classification: Lokale Notation: phys 9Online-Ressourcen:

Volltext frei verfügbar

Notes: Anmerkungen: Elektronische RessourceNote: Hinweis: Elektronische RessourceBearbeitungsvermerk:

Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet DISS

Hochschulschriftenvermerk: Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Diss., 2013 PPN: PPN: 779948874Package identifier: Produktsigel: GBV-ODiss

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