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Monitoring the film formation during sputter deposition of vanadium carbide by in situ X-ray reflectivity measurements / von Marthe Kaufholz

Von:

Kaufholz, Marthe [aut]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Verlag: 2014Beschreibung: Online-RessourceGenre/Form:

Hochschulschrift

DDC-Klassifikation:

Online-Ressourcen:

Volltext frei verfügbar

Notes: Anmerkungen: Elektronische RessourceNote: Hinweis: Elektronische RessourceHochschulschriftenvermerk: Karlsruhe, KIT, Diss., 2014 PPN: PPN: 818182199Package identifier: Produktsigel: GBV-ODiss

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