OCM 2017 : 3rd International Conference on Optical Characterization of Materials : March 22nd - 23rd, 2017 : Karlsruhe, Germany / Jürgen Beyerer, Fernando Puente Léon, Thomas Längle (eds.)

Von:

(3. : OCM (3. : 2017 : Karlsruhe) [VerfasserIn]

Mitwirkende(r):

Beyerer, Jürgen, 1961- [HerausgeberIn]
Puente León, Fernando, 1969-2020 [HerausgeberIn]
Längle, Thomas [HerausgeberIn]
Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung [Gastgebende Institution]
Karlsruher Institut für Technologie. Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Resource type: Ressourcentyp: Buch (Online)Buch (Online)Sprache: Englisch Verlag: Karlsruhe : KIT Scientific Publishing, [2017]Beschreibung: 1 Online-Ressource (vii, 231 Seiten) : IllustrationenISBN:

9783731506126

Schlagwörter:

Materialcharakterisierung
Spektroskopie
Universitätsverlag Karlsruhe
KIT Scientific Publishing
Materialerkennung
Messdatenverarbeitung
Spektral
Schüttgutsortierung
KCM
Waste and Plastic Recycling
Spectral Data Processing
Food Inspection
Material Signatur

Genre/Form:

Konferenzschrift

Andere physische Formen: Erscheint auch als: OCM 2017. Druck-Ausgabe Karlsruhe : KIT Scientific Publishing, 2017. vii, 231 SeitenDDC-Klassifikation:

RVK: RVK: ZM 2000DOI: DOI: 10.5445/KSP/1000063696Online-Ressourcen:

Volltext frei verfügbar

PPN: PPN: 883906201

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