OCM 2017 : 3rd International Conference on Optical Characterization of Materials : March 22nd - 23rd, 2017 : Karlsruhe, Germany / Jürgen Beyerer, Fernando Puente Léon, Thomas Längle (eds.)
Contributor(s):- Beyerer, Jürgen [HerausgeberIn]
- Puente León, Fernando [HerausgeberIn]
- Längle, Thomas [HerausgeberIn]
- Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung [Gastgebende Institution]
- Karlsruher Institut für Technologie. Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
- 9783731506126
- 500
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